Výsledky vyhledávání - "Hanta, N."

Conference

A soft-error-immune 0.9-ns 1.15-Mb ECL-CMOS SRAM with 30-ps 120 k logic gates and on-chip test circuitry.

Autor: Higeta, K., Usami, M., Ohayashi, M., Fujimura, Y., Nishiyama, M., Isomura, S., Yamaguchi, K., Idei, Y., Nambu, H., Ohhata, K., Hanta, N.

Publikováno v: Proceedings of Bipolar/Bicmos Circuits & Technology Meeting; 1995, p47-50, 4p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

A soft-error-immune 0.9-ns 1.15-Mb ECL-CMOS SRAM with 30-ps 120 k logic gates and on-chip test circuitry.

Autor: Higeta, K., Usami, M., Ohayashi, M., Fujimura, Y., Nishiyama, M., Isomura, S., Yamaguchi, K., Idei, Y., Nambu, H., Ohhata, K., Hanta, N.

Publikováno v: IEEE Journal of Solid-State Circuits; 1996, Vol. 31 Issue 10, p1443-1450, 8p

Zobrazit plný text záznamu