Zobrazeno 1 - 10
of 336
pro vyhledávání: '"Hansch, W."'
Autor:
Hirler, A., Alsioufy, A., Biba, J., Lehndorff, T., Lochner, H., Simon, S., Sulima, T., Thomas, W., Hansch, W.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2019 100-101
Autor:
Gebauer, W., Engelmann, E., Ganka, Th., Iskra, P., Löbner, S., Marquez Seco, A., Wiest, F., Fojt, R., Hansch, W.
Publikováno v:
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 21 December 2018 912:90-92
Autor:
Hirler, A., Biba, J., Alsioufy, A., Lehndorff, T., Sulima, T., Lochner, H., Abelein, U., Hansch, W.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2017 76-77:38-41
Publikováno v:
In Thin Solid Films 1 April 2014 556:376-380
Autor:
Kelwing, T., Naumann, A., Trentzsch, M., Graetsch, F., Bayha, B., Herrmann, L., Trui, B., Rudolph, D., Lipp, D., Krause, G., Carter, R., Stephan, R., Kücher, P., Hansch, W.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2011 88(2):141-144
Autor:
Nüssl, R., Senft, C., Beckmeier, D., Jewula, T., Ruile, W., Sulima, T., Hansch, W., Eisele, I.
Publikováno v:
In Thin Solid Films 2011 519(22):8154-8160
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Nüssl, R., Jewula, T., Binninger, C., Drozd, R., Ruile, W., Beckmeier, D., Sulima, T., Eisele, I., Hansch, W.
Publikováno v:
In Materials Characterization 2010 61(11):1054-1060
Autor:
Schlosser, M., Iskra, P., Abelein, U., Lange, H., Lochner, H., Sulima, T., Wiest, F., Zilbauer, T., Schmidt, B., Eisele, I., Hansch, W.
Publikováno v:
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 2010 624(2):524-527
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.