Zobrazeno 1 - 10
of 14
pro vyhledávání: '"Hans Sibbert"'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 1979 19(5):419-419
Publikováno v:
IEE Journal on SolidState and Electron Devices. 3:33
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c1771483c5684d18b9444fefd9cdb3a6
https://doi.org/10.1049/ij-ssed.1979.0010
https://doi.org/10.1049/ij-ssed.1979.0010
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEE Journal on Solid-State & Electron Devices; Mar1979, Vol. 3 Issue 2, p33-40, 8p
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices; 1979, Vol. 26 Issue 4, p513-520, 8p
Autor:
Geipel, H.J., Fortino, A.G.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices; 1979, Vol. 26 Issue 4, p508-513, 6p
Publikováno v:
IEEE Journal of Solid-State Circuits; 1979, Vol. 14 Issue 6, pi1-i15, 15p
Publikováno v:
IEEE Journal of Solid-State Circuits; 1979, Vol. 14 Issue 3, p561-568, 8p
Publikováno v:
IEEE Journal of Solid-State Circuits; 1979, Vol. 14 Issue 2, p442-455, 14p