Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"Hanel, Markus"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
UPCommons. Portal del coneixement obert de la UPC
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Automotive Microcontrollers (MCUs) are extensively tested to guarantee zero-defect quality. Performance screening is one of the critical factors to ensure that MCUs meet quality requirements. Ring Oscillator (RO) structures are used for this performa
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::29f1f4de61cb6a82a3649bdec5433f21
http://hdl.handle.net/2117/372137
http://hdl.handle.net/2117/372137