Zobrazeno 1 - 10
of 34
pro vyhledávání: '"Han Ho Jin"'
Autor:
Han, Ho Jin, Sivaraman, Aneesh, Kim, Minkyoung, Min, Kyoung Ho, Song, Mo Eun, Choi, Yongseok, Choi, Won-Jun, Han, Hyo-Kyung, Han, Junyeol, Jang, Jun-Pil, Ryoo, In-Ja, Lee, Kyeong, Soung, Nak-Kyun
Publikováno v:
In Journal of Advanced Research October 2024 64:67-81
Autor:
Kim, Hye-min, He, Long, Lee, Sangku, Park, Chanmi, Kim, Dong Hyun, Han, Ho-Jin, Han, Junyeol, Hwang, Joonsung, Cha-Molstad, Hyunjoo, Lee, Kyung Ho, Ko, Sung-Kyun, Jang, Jae-Hyuk, Ryoo, In-Ja, Blenis, John, Lee, Hee Gu, Ahn, Jong Seog, Kwon, Yong Tae, Soung, Nak-Kyun, Kim, Bo Yeon
Publikováno v:
In Bone February 2020 131
Autor:
Park, Chan-Mi, Kim, Hye-Min, Kim, Dong Hyun, Han, Ho-Jin, Noh, Haneul, Jang, Jae-Hyuk, Park, Soo-Hyun, Chae, Han-Jung, Chae, Soo-Wan, Ryu, Eun Kyoung, Lee, Sangku, Liu, Kangdong, Liu, Haidan, Ahn, Jong-Seog, Kim, Young Ock, Kim, Bo-Yeon *, Soung, Nak-Kyun *
Publikováno v:
In Molecules and Cells December 2016 39(12):855-861
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Jun Hyun Chun, Sang-Jin Byeon, Han Ho Jin, Jin-Hee Cho, Kang Seol Lee, Jae-Jin Lee, Kwan-Weon Kim, Sung-Joo Hong, Kyung Whan Kim, Dong Uk Lee, Sang Kyun Nam
Publikováno v:
VLSIC
For the heterogeneous-structured high bandwidth memory (HBM) DRAM, it is important to guarantee the reliability of TSV connections. An exact TSV current scan and repair method is proposed, that uses similar to the correlated double sampling method. T
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::25da9d3125b3cf800317659df0c5b5af
https://doi.org/10.1109/vlsic.2014.6858368
https://doi.org/10.1109/vlsic.2014.6858368
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.