Zobrazeno 1 - 10 of 88 pro vyhledávání: '"Hammud, Adnan"'
1
Report
Picocavity-enhanced near-field optical microscopy with 1 nm resolution
Autor: Shiotari, Akitoshi, Nishida, Jun, Hammud, Adnan, Schulz, Fabian, Wolf, Martin, Kumagai, Takashi, Müller, Melanie
Scattering-type scanning near-field optical microscopy (s-SNOM) allows for the observation of the optical response of material surfaces with a resolution far below the diffraction limit. A spatial resolution of 10-100 nm is routinely achieved in s-SN
Externí odkaz: http://arxiv.org/abs/2410.18455
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
3
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
6
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
8
Akademický článek
Investigation of Defect Formation in Monolithic Integrated GaP Islands on Si Nanotip Wafers.
Autor: Häusler, Ines, Řepa, Rostislav, Hammud, Adnan, Skibitzki, Oliver, Hatami, Fariba
Publikováno v: Electronics (2079-9292); Aug2024, Vol. 13 Issue 15, p2945, 11p
Zobrazit plný text záznamu
10
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje