Zobrazeno 1 - 1 of 1 pro vyhledávání: '"Hamiyati Vaghef, Vahid"'
1
Akademický článek
Node-to-node error sensitivity analysis using a graph based approach for VLSI logic circuits
Autor: Hamiyati Vaghef, Vahid, Peiravi, Ali
Publikováno v: In Microelectronics Reliability January 2015 55(1):264-271
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje