Zobrazeno 1 - 10
of 452
pro vyhledávání: '"Hamacher, M."'
Publikováno v:
In Journal of Crystal Growth 1 October 2021 571
Publikováno v:
In Journal of Crystal Growth 15 April 2019 512:47-60
Autor:
Zimmermann, G., Pickmann, C., Hamacher, M., Schaberger-Zimmermann, E., Neumann-Heyme, H., Eckert, K., Eckert, S.
Publikováno v:
In Acta Materialia March 2017 126:236-250
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
David C. Henshall, Kesavan J, Hamacher M, Jochen H. M. Prehn, Dinkel K, Orla Watters, Tobias Engel
The P2X7 receptor (P2X7R) is a cation membrane channel activated by extracellular adenosine 5′-triphosphate. Activation of this receptor results in numerous downstream events including the modulation of neurotransmission, release of pro-inflammator
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::f8570f260dc567051e72b1deff565503
https://doi.org/10.1101/2021.03.28.437391
https://doi.org/10.1101/2021.03.28.437391
Pouring the Remaining Melt as a Method to Reduce the Red-Zone in the Top Region of mc-Silicon Ingots
38th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition; 334-338
Completing our investigations on different melt removal techniques presented at previous PVSEC we installed an appliance in our SCU-G1 furnace for pouring the impurity-en
Completing our investigations on different melt removal techniques presented at previous PVSEC we installed an appliance in our SCU-G1 furnace for pouring the impurity-en
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4bce7e117d0b2b40342f2088738ae9b2
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2006 46(2):421-431