Zobrazeno 1 - 10
of 71
pro vyhledávání: '"Hailstone R"'
Autor:
Pierce, M. S., Davies, J. E., Turner, J. J., Chesnel, K., Fullerton, E. E., Nam, J., Hailstone, R., Kevan, S. D., Kortright, J. B., Liu, Kai, Sorensen, L. B., York, B. R., Hellwig, O.
Publikováno v:
Physical Review B 87, 184428 (2013)
Using a combination of resonant soft x-ray scattering, magnetometry, x-ray reflectivity and microscopy techniques we have investigated the magnetic properties and microstructure of a series of perpendicular anisotropy Co/Pt multilayer films with resp
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1301.1737
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hailstone, R.1 hailstone@cis.rit.edu, DiFrancesco, A.1, Allston, T.2, Parsiegla, K.3, Reed, K.3
Publikováno v:
Journal of Nanoparticle Research. Mar2014, Vol. 16 Issue 3, p1-12. 12p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Tan, J.1, Hailstone, R. K.1 hailstone@cis.rit.edu
Publikováno v:
Imaging Science Journal. 2004, Vol. 52 Issue 4, p202-211. 10p. 1 Chart, 4 Graphs.
Autor:
Hailstone, R. K.1 hailstone@cis.rit.edu, De Keyzer, R.2
Publikováno v:
Imaging Science Journal. 2004, Vol. 52 Issue 3, p164-175. 12p. 1 Black and White Photograph, 2 Diagrams, 15 Graphs.
Publikováno v:
Imaging Science Journal. 2004, Vol. 52 Issue 1, p27-34. 8p. 1 Chart, 4 Graphs.