Výsledky vyhledávání - "Habibe Sayraç"

Characterization of GaAs/GaAlAs Heterostructures Grown on GaAs Substrate using High Resolution X-ray Diffraction Method

Autor: Sezai Elagöz, Muhammed Sayrac, Habibe Sayraç

Publikováno v: Volume: 20, Issue: 4 558-564
Afyon Kocatepe Üniversitesi Fen Ve Mühendislik Bilimleri Dergisi

Nano yapıların X- ışını kırınımı (XRD) yöntemi kullanılarak karakterizasyonu, bu yapıların bileşimi, örgü zorlanması ve heteroepitaksiyel katmanları hakkında bilgi verir. Bu bilgiler optoelektronik cihazların üretiminde önemli

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::db6fdca003070a58461f11b41efa5f2c
https://dergipark.org.tr/tr/pub/akufemubid/issue/56836/707628

Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání