Zobrazeno 1 - 10 of 32 pro vyhledávání: '"Haasch, R. T."'
1
Akademický článek
Sn-mediated Ge/Ge(001) growth by low-temperature molecular-beam epitaxy: Surface smoothening and enhanced epitaxial thickness.
Autor: Bratland, K. A., Foo, Y. L., Spila, T., Seo, H.-S., Haasch, R. T., Desjardins, P., Greene, J. E.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 2/15/2005, Vol. 97 Issue 4, p044904, 10p, 3 Black and White Photographs, 1 Diagram, 4 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Band gap in epitaxial NaCl-structure CrN(001) layers.
Autor: Gall, D., Shin, C.-S., Haasch, R. T., Petrov, I., Greene, J. E.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; May2002, Vol. 91 Issue 9, p5882, 5p, 4 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Characterization of CrBN films deposited by ion beam assisted deposition.
Autor: Aouadi, S. M., Namavar, F., Tobin, E., Finnegan, N., Haasch, R. T., Nilchiani, R., Turner, J. A., Rohde, S. L.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 2/1/2002, Vol. 91 Issue 3, p1040, 6p, 3 Charts, 7 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
6
Akademický článek
Electronic and optical properties of Ta1-xZrxN films: Experimental and ab initio studies.
Autor: Aouadi, S. M., Bohnhoff, A., Amriou, T., Haasch, R. T., Williams, M., Hilfiker, J. N.
Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part A-Vacuums, Surfaces & Films; 2005, Vol. 23 Issue 4, p705-712, 8p
Zobrazit plný text záznamu
7
Akademický článek
Epitaxial CrN(001) Grown and Analyzed In situ by XPS and UPS. II. Analysis of Ar+ Sputter Etched Layers.
Autor: Haasch, R. T., Lee, T. -Y., Gall, D., Greene, J. E., Petrov, I.
Publikováno v: Surface Science Spectra; 2000, Vol. 7 Issue 3, p262-270, 9p
Zobrazit plný text záznamu
8
Akademický článek
Epitaxial ScN(001) Grown and Analyzed In situ by XPS and UPS. I. Analysis of As-deposited Layers.
Autor: Haasch, R. T., Lee, T. -Y., Gall, D., Greene, J. E., Petrov, I.
Publikováno v: Surface Science Spectra; 2000, Vol. 7 Issue 3, p169-177, 9p
Zobrazit plný text záznamu
9
Akademický článek
Epitaxial ScN(001) Grown and Analyzed In situ by XPS and UPS. II. Analysis of Ar+ Sputter Etched Layers.
Autor: Haasch, R. T., Lee, T. -Y., Gall, D., Greene, J. E., Petrov, I.
Publikováno v: Surface Science Spectra; 2000, Vol. 7 Issue 3, p178-184, 7p
Zobrazit plný text záznamu
10
Akademický článek
Epitaxial ScN(001) Grown and Analyzed In situ by AES After (1) Deposition and (2) Ar+ Sputter Etching.
Autor: Finnegan, N., Lee, T.-Y., Haasch, R. T., Greene, J. E., Petrov, I.
Publikováno v: Surface Science Spectra; 2000, Vol. 7 Issue 3, p185-192, 8p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje