Zobrazeno 1 - 10
of 148
pro vyhledávání: '"Ha, Don-Hyung"'
Autor:
Schwartz, Jonathan, Di, Zichao Wendy, Jiang, Yi, Fielitz, Alyssa J., Ha, Don-Hyung, Perera, Sanjaya D., Baggari, Ismail El, Robinson, Richard D., Fessler, Jeffrey A., Ophus, Colin, Rozeveld, Steve, Hovden, Robert
Publikováno v:
npj Comut Mater 8, 16 (2022)
Efforts to map atomic-scale chemistry at low doses with minimal noise using electron microscopes are fundamentally limited by inelastic interactions. Here, fused multi-modal electron microscopy offers high signal-to-noise ratio (SNR) recovery of mate
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2203.02024
Autor:
Park, Yoonsu, Yeo, Kyeong-Rim, Hwang, Yun Jae, Kim, Minyoung, Jeong, Wooseok, Kim, Soo-Kil, Ha, Don-Hyung
Publikováno v:
In Journal of Alloys and Compounds 25 July 2024 993
Autor:
Hwang, Eunseo, Kim, Minyoung, Lee, Wooseok, Park, Yoonsu, Jeong, Wooseok, Hwang, Yun Jae, Lee, Yeongbin, Bang, Shinhyo, Kim, Goohwan, Moreau, Liane M., Son, Hyungbin, Back, Seoin, Ha, Don-Hyung
Publikováno v:
In Chemical Engineering Journal 15 August 2024 494
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kim, Minyoung, Kang, Hyeri, Hwang, Eunseo, Park, Yoonsu, Jeong, Wooseok, Hwang, Yun Jae, Ha, Don-Hyung
Publikováno v:
In Applied Surface Science 1 March 2023 612
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Park, Yoonsu, Kim, Hoyoung, Lee, Taegyeom, Hong, Yun-Kun, Jeong, Wooseok, Kim, Soo-Kil, Ha, Don-Hyung
Publikováno v:
In Chemical Engineering Journal 1 March 2022 431 Part 3
Autor:
Jeon, Sanghyun, Ahn, Junhyuk, Jung, Myung‐Chul, Woo, Ho Kun, Bang, Junsung, Jung, Byung Ku, Oh, Seongkeun, Lee, Sang Yeop, Lee, Kyu Joon, Paik, Taejong, Ha, Don‐Hyung, Ahn, Jae‐Pyoung, Jeong, Sohee, Kim, Dong Hoe, Noh, Jun Hong, Jang, Ho Seong, Han, Myung Joon, Oh, Soong Ju
Publikováno v:
Small; 6/5/2024, Vol. 20 Issue 23, p1-10, 10p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Levin, Barnaby D. A., Padgett, Elliot, Chen, Chien-Chun, Scott, M. C., Xu, Rui, Theis, Wolfgang, Jiang, Yi, Yang, Yongsoo, Ophus, Colin, Zhang, Haitao, Ha, Don-Hyung, Wang, Deli, Yu, Yingchao, Abruna, Hector D., Robinson, Richard D., Ercius, Peter, Kourkoutis, Lena F., Miao, Jianwei, Muller, David A., Hovden, Robert
Publikováno v:
Scientific Data 3, Article number: 160041 (2016)
Electron tomography in materials science has flourished with the demand to characterize nanoscale materials in three dimensions (3D). Access to experimental data is vital for developing and validating reconstruction methods that improve resolution an
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1606.02938