Zobrazeno 1 - 10
of 222
pro vyhledávání: '"HARTNER, W."'
Publikováno v:
J.Phys.D: Appl.Phys.34 (2001) A173-A178
The structural interface properties of layered Pt/Ti/SiO2/Si electrodes have been investigated using high-resolution specular and diffuse x-ray reflectivity under grazing angles. Currently this multilayer system represents a technological standard as
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/cond-mat/0010467
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2016 64:699-704
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Moert, M. *, Schindler, G., Mikolajick, T., Nagel, N., Hartner, W., Dehm, C., Kohlstedt, H., Waser, R.
Publikováno v:
In Applied Surface Science 2005 249(1):23-30
Autor:
Mikolajick, T., Dehm, C., Hartner, W., Kasko, I., Kastner, M.J., Nagel, N., Moert, M., Mazure, C.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2001 41(7):947-950
Autor:
Landau, S.A *, Junghans, N, Weiß, P.-A, Kolbesen, B.O, Olbrich, A, Schindler, G, Hartner, W, Hintermaier, F, Dehm, C, Mazuré, C
Publikováno v:
In Applied Surface Science 2000 157(4):387-392
Publikováno v:
Gene Therapy. Jan2009, Vol. 16 Issue 1, p52-59. 8p. 1 Color Photograph, 1 Black and White Photograph, 4 Graphs.
Autor:
Hartner, W., Bosk, P., Schindler, G., Bachhofer, H., Mört, M., Wendt, H., Mikolajick, T., Dehm, C., Schroeder, H., Waser, R.
Publikováno v:
Applied Physics A: Materials Science & Processing. 2003, Vol. 77 Issue 3/4, p571. 9p.
Autor:
HARTNER, W.
Publikováno v:
Paideuma, 1943 Mar 01. 2(6/7), 268-326.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/40732625