Zobrazeno 1 - 10
of 522
pro vyhledávání: '"H.Y Huang"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Human Reproduction. 37
Study question Although oocyte vitrification is efficient for fertility preservation, the information about damage post-warming is limited. Could the oocyte morphology before vitrification predict the survival rate? Summary answer Precisely measuring
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::36f5c7cb49f3d2573282729fc1c00d2c
https://doi.org/10.1093/humrep/deac107.232
https://doi.org/10.1093/humrep/deac107.232
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Investigative Dermatology. 143:S220
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ab285a5c7170671a36648afbad796a3f
https://doi.org/10.1016/j.jid.2023.03.1298
https://doi.org/10.1016/j.jid.2023.03.1298
Autor:
null Q.B. Wang, null C.M. Li, null R.S. Jiang, null S.F. Li, null H.Y. Huang, null Z.Y. Huang, null Z.C. Wang, null Z.H. Zhao
Publikováno v:
European Poultry Science (EPS). 86
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0b17d03a1ad4e7fbe71f4d131107044e
https://doi.org/10.1399/eps.2022.351
https://doi.org/10.1399/eps.2022.351
Autor:
H.P. Chen, Y.H. Wu, H.Y. Huang, C.H. Tsai, S.K. Lee, C.C. Lee, T.H. Wei, H.C. Yao, Y.C. Wang, C.Y. Liao, H.K. Chang, C.W. Lu, Winston S. Shue, Min Cao
Publikováno v:
2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM).
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::41140a01a34304bcb6f9f1861b6a0e1b
https://doi.org/10.1109/iedm19574.2021.9720600
https://doi.org/10.1109/iedm19574.2021.9720600