Knihovna AV ČR, v. v. i.
  • Odhlásit
  • Přihlášení
  • Jazyk
    • English
    • Čeština
  • Instituce
    • Knihovna AV ČR
    • Souborný katalog AV ČR
    • Archeologický ústav Brno
    • Archeologický ústav Praha
    • Astronomický ústav
    • Biofyzikální ústav
    • Botanický ústav
    • Etnologický ústav
    • Filosofický ústav
    • Fyzikální ústav
    • Fyziologický ústav
    • Geofyzikální ústav
    • Geologický ústav
    • Historický ústav
    • Masarykův ústav
    • Matematický ústav
    • Orientální ústav
    • Psychologický ústav
    • Slovanský ústav
    • Sociologický ústav
    • Ústav analytické chemie
    • Ústav anorganické chemie
    • Ústav pro českou literaturu
    • Ústav dějin umění
    • Ústav fyziky atmosféry
    • Ústav fotoniky a elektroniky
    • Ústav fyzikální chemie J. H.
    • Ústav fyziky materiálů
    • Ústav geoniky
    • Ústav pro hydrodynamiku
    • Ústav chemických procesů
    • Ústav informatiky
    • Ústav pro jazyk český
    • Ústav jaderné fyziky
    • Ústav makromolekulární chemie
    • Ústav pro soudobé dějiny
    • Ústav přístrojové techniky
    • Ústav státu a práva
    • Ústav struktury a mechaniky hornin
    • Ústav teoretické a aplikované mechaniky
    • Ústav teorie informace a automatizace
    • Ústav výzkumu globální změny
Pokročilé vyhledávání
  • Domovská stránka
  • Vyhledávání: "H.W. Krautter"
  • Navrhnout nákup titulu
Zobrazeno 1 - 10 of 46 pro vyhledávání: '"H.W. Krautter"'
1
Temperature-humidity-bias behavior and acceleration factors for nonhermetic uncooled InP-based lasers
Autor: R.B. Comizzoli, H.W. Krautter, Naresh Chand, T.L. Evanosky, J.W. Osenbach
Publikováno v: Journal of Lightwave Technology. 15:861-873
The stability of uncooled InP-based laser diodes in humid ambients was studied. Nonhermetic devices were aged at two different temperatures and humidities at a constant current and at one temperature and humidity at six different drive currents. For
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4b97ab80160570de100f0bccea275e2d
https://doi.org/10.1109/50.580828
Zobrazit plný text záznamu
2
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
3
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
4
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
5
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
6
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
7
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
8
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
9
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
10
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5
  • Další »
  • [5]

Vyhledávací nástroje:

  • RSS
  • Poslat e-mailem

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje
Pouze tištěné dokumenty
Zahrnout EIZ
  • 27 Akademické články
  • 12 Elektronické knihy
  • 5 Konferenční materiály
  • 1 Trade Publications
  • 1 Recenze
  • 4 oxides
  • 4 silicon
  • 3 dielectrics
  • 3 dielectrics research
  • 3 electronic circuits
  • 3 gadolinium
  • 3 metallic oxides
  • 3 secondary ion mass spectrometry
  • 3 thin films
  • 3 x-ray diffraction
  • 2 capacitors
  • 2 crystal growth
  • 2 diamonds
  • 2 dielectric-semiconductor interface
  • 2 electric charge
  • 2 electric properties of metallic films
  • 2 electromagnetic induction
  • 2 epitaxy
  • 2 erbium
  • 2 high-k dielectric
  • 2 hysteresis
  • 2 integrated circuits
  • 2 ion bombardment
  • 2 ion implantation
  • 2 lanthanum compounds
  • 2 materials
  • 2 metal oxide semiconductor field-effect transistors
  • 2 nanotechnology
  • 2 nonvolatile memory
  • 2 physical sciences
  • 2 plasma-enhanced chemical vapor deposition
  • 2 semiconductor junctions
  • 2 surface analysis
  • 2 surfaces (technology)
  • 1 aluminum
  • 1 amorphous silica
  • 1 analytical chemistry
  • 1 atomic and molecular physics, and optics
  • 1 atomic force microscopy
  • 1 business
  • 1 business.industry
  • 1 channels (hydraulic engineering)
  • 1 constant current
  • 1 corrosion and anti-corrosives
  • 1 diode
  • 1 electric insulators & insulation
  • 1 electrical engineering materials
  • 1 electronics--materials
  • 1 gadolinium compounds
  • 1 gate array circuits
  • 11 springer nature
  • 4 extension media
  • 4 springer
  • 2 american institute of physics inc.
  • 2 crc press
  • 2 materials research society
  • 2 v. lashkaryov institute of semiconductor physics
  • 1 elsevier ltd
  • 1 elsevier science
  • 1 ieee
  • 1 institute of electrical and electronics engineers (ieee)
  • 1 jenny stanford publishing
  • 1 momentum press
  • 1 nova science publishers, inc
  • 1 pennwell publ co
  • 1 publ by inst of environmental sciences
  • 1 society of photo-optical instrumentation engineers
  • 1 trans tech publications ltd
  • 1 woodhead publishing
  • 8 applied physics a: materials science & processing
  • 5 solid state technology
  • 3 journal of applied physics
  • 2 journal of electronic materials
  • 2 journal of lightwave technology
  • 2 journal of vacuum science and technology a: vacuum, surfaces and films
  • 2 semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics
  • 2 technical digest - international electron devices meeting
  • 1 applied physics letters
  • 1 journal of crystal growth
  • 1 journal of materials research
  • 1 journal of materials science: materials in electronics
  • 1 materials research society symposium - proceedings
  • 1 proceedings of spie - the international society for optical engineering
  • 1 proceedings, annual technical meeting - institute of environmental sciences
  • 1 solid-state electronics
  • 16 Scopus®
  • 9 eBook Index
  • 8 Complementary Index
  • 7 Academic Search Ultimate
  • 3 eBook Collection (EBSCOhost)
  • 2 Business Source Ultimate
  • 1 OpenAIRE

Možnosti vyhledávání

  • Tematická mapa
  • Historie vyhledávání
  • Pokročilé vyhledávání

Objevte více

  • Abecední procházení

Hledáte pomoc?

  • Tipy pro vyhledávání
načítá se......