Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"H. Schligtenhorst"'
Publikováno v:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. 16:181-186
During the qualification of a 0.35-/spl mu/m CMOS process, it was observed that diffusion resistors showed a systematic mismatch, depending on the position on the wafer. The mismatch increased from the center of the wafer to the outer regions. Variou
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4e22debe8d98dae29e940c9b3dc0cfb7
https://doi.org/10.1109/tsm.2003.811584
https://doi.org/10.1109/tsm.2003.811584
Publikováno v:
Proceedings of the 2002 International Conference on Microelectronic Test Structures, 2002. ICMTS 2002..
During the qualification of a 0.35/spl mu/m CMOS process, it was observed that diffusion resistors showed a systematic mismatch, depending on the position on the wafer. The mismatch increased from the center of the wafer to the outer regions. Various
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9b217d4e8e1173e8e2b12c96a7e729b7
https://doi.org/10.1109/icmts.2002.1193204
https://doi.org/10.1109/icmts.2002.1193204
Autor:
R. van Huizen, J.J. Koning, Raymond J. E. Hueting, H. Schligtenhorst, H.G.A. Huizing, J.A. van der Pol, G.J.J. Hessels, B. van Velzen, F. van den Elshout, J.H.H.A. Egbers, E.F. Hooghoudt, A.W. Ludikhuize, J.F. Mom, G. van Lijnschoten, Maarten Jacobus Swanenberg, J. Soeteman
Publikováno v:
12th International Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs. Proceedings (Cat. No.00CH37094).
A-BCD is a family of 100 V BCD processes on SOI offering latchup free operation, improved robustness, superior EMC performance, higher packing density, lower mask count, high temperature and higher frequency operation and easier design over bulk sili
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::949b6f87356b657457428b1a1f9ef606
https://doi.org/10.1109/ispsd.2000.856836
https://doi.org/10.1109/ispsd.2000.856836
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.