Zobrazeno 1 - 10
of 84
pro vyhledávání: '"H. Niijima"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
H. Niijima
Publikováno v:
IBM Journal of Research and Development. 39:531-545
Publikováno v:
Auris Nasus Larynx. 19:69-74
Repetitive acute otitis media is due to recurrent bacterial infection of middle ear superimposed on chronic otitis media with effusion. Endotoxin, one of the constituents of Haemophilus infuenzae , is present in some cases in the middle ear effusion
Publikováno v:
Auris Nasus Larynx. 19:125-131
A rare case of pleomorphic adenoma of the nasal septum is reported. A 48-year-old man complaining of nasal obstruction and nasal bleeding was referred to our hospital for treatment of a left nasal tumor. The tumor, including the nasal septum, was res
Publikováno v:
Microelectronic Engineering. 12:47-54
This paper describes a new E-B test system which offers the fully automatic failure analysis for VLSI memory at the wafer level. This system consists of two principal functions; an auto-navigator to locate the failure area, and an E-B tester with vol
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
ITC
To shorten the silicon debugging time of VLSI chips with design rules of 0.5 /spl mu/ or less, an E-beam prober becomes an indispensable tool. However, the accuracy of E-beam positioning has to be greatly improved to the 0.1 /spl mu/ level so the bes
Publikováno v:
ITC
A new test technique to localize failures of devices with scan design easily and quickly using LSI tester is proposed. This technique allows device designers or test engineers to localize the scan Flip Flops that failed using expressions based on the