Zobrazeno 1 - 10
of 104
pro vyhledávání: '"H. Koivula"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Alexander B. Zorin, Ville F. Maisi, Emma Mykkänen, O. Hahtela, Antti Kemppinen, H. Koivula, Antti Manninen, Jukka P. Pekola, Sergey V. Lotkhov, Olli-Pentti Saira
Publikováno v:
Manninen, A, Kemppinen, A, Mykkänen, E, Koivula, H, Hahtela, O, Maisi, V F, Lotkhov, S V, Zorin, A B, Saira, O-P & Pekola, J P 2012, Double-Shielded Sample Stage for Single-Electron Devices . in 2012 Conference on Precision electromagnetic Measurements, CPEM 2012 . IEEE Institute of Electrical and Electronic Engineers, pp. 704-705, 2012 Conference on Precision Electromagnetic Measurements, CPEM 2012, Washington, DC, United States, 1/07/12 . https://doi.org/10.1109/CPEM.2012.6251124
We demonstrate that while significant efforts have been put on filtering the signal lines of low-temperature metallic nanoscale devices, the quality of radiation shielding has been overlooked. We describe a double-shielded sample stage that is shown
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::8861ab3a2a7440dcfc783ac6e92d15fb
https://cris.vtt.fi/en/publications/30db7366-348d-4dee-944f-5e6d440e629d
https://cris.vtt.fi/en/publications/30db7366-348d-4dee-944f-5e6d440e629d
Autor:
J. Manssila, U. Koivula, T. Mansten, H. Isotalo, Jorma Manninen, E. Leinonen, R. Nyblom, H. Koivula, T. Meriläinen, M. Kari, K. Riski, Jari Kortström, J. Nissilä, J. Muttilainen, J. Sarilo, Antti Lassila
Publikováno v:
Lassila, A, Kari, M, Koivula, H, Koivula, U, Kortström, J, Leinonen, E, Manninen, J, Manssila, J, Mansten, T, Meriläinen, T, Muttilainen, J, Nissilä, J, Nyblom, R, Riski, K, Sarilo, J & Isotalo, H 2011, ' Design and performance of an advanced metrology building for MIKES ', Measurement, vol. 44, no. 2, pp. 399-425 . https://doi.org/10.1016/j.measurement.2010.10.013
Fundamental metrology is closely linked to the development of science and needs good facilities to achieve low measurement uncertainty in demanding experiments. The laboratories must have good temperature stability, low vibration level, good electrom
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::8ab272554ac18c348aa3e5e2cdf7f69d
https://cris.vtt.fi/en/publications/3ceb2bfd-27d0-4951-81a7-76d62f6432c3
https://cris.vtt.fi/en/publications/3ceb2bfd-27d0-4951-81a7-76d62f6432c3
Autor:
Jukka P. Pekola, Dmitri V. Averin, Heikki Seppä, Thomas Aref, Olli-Pentti Saira, Alexander B. Zorin, Sergey V. Lotkhov, Juho Luomahaara, Matthias Meschke, Emma Mykkänen, Jaw-Shen Tsai, Ville F. Maisi, H. Koivula, Antti Manninen, O. Hahtela, Yu. A. Pashkin, Antti Kemppinen, Sergey Kafanov, Juha Hassel, Mikko Möttönen
Publikováno v:
Kemppinen, A, Maisi, V F, Saira, O-P, Kafanov, S, Lotkhov, S V, Pashkin, Y A, Aref, T, Meschke, M, Möttönen, M, Hahtela, O, Hassel, J, Luomahaara, J, Mykkänen, E, Koivula, H, Averin, D V, Seppä, H, Tsai, J S, Zorin, A B, Manninen, A & Pekola, J P 2011, Radio-frequency transport of single electrons in superconductor-normal-metal tunnel junctions and the quantum metrological triangle . in Proceedings : XXXth URSI General Assembly and Scientific Symposium, URSIGASS 2011 ., 6050291, IEEE Institute of Electrical and Electronic Engineers, 30th URSI General Assembly and Scientific Symposium, URSIGASS 2011, Istanbul, Turkey, 13/08/11 . https://doi.org/10.1109/URSIGASS.2011.6050291
We are developing a single-electron turnstile based on a nanoscale superconductor-insulator-normal-metal-insulator-supercond uctor (SINIS) structure. The goal is to obtain the frequency to current conversion I = ef with a relative uncertainty < 10-8
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::f11564e86b93c82c976c695c1848d09f
https://cris.vtt.fi/en/publications/be459d28-ae7f-4bc7-8311-e38991cb9d42
https://cris.vtt.fi/en/publications/be459d28-ae7f-4bc7-8311-e38991cb9d42