Zobrazeno 1 - 10
of 219
pro vyhledávání: '"H. Höfer"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
H. Höfer
Publikováno v:
Kerntechnik. 74:188-190
By routine examinations of a radiation worker, a contamination incident with transuranium nuclides was discovered. Immediate investigations showed a serious degree of the incident. First countermeasures were done to narrow the effects down and to avo
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4439812a95817b4426f493b74a7f3f5f
https://doi.org/10.3139/124.110028
https://doi.org/10.3139/124.110028
Autor:
H. Höfer
Publikováno v:
e & i Elektrotechnik und Informationstechnik. 119:364-366
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::bea36d653f7b393d86578e8730f1e86f
https://doi.org/10.1007/bf03159329
https://doi.org/10.1007/bf03159329
Publikováno v:
Kerntechnik. 58:164-169
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4b2faa2315720163f9a5be79959cae50
https://doi.org/10.1515/kern-1993-580308
https://doi.org/10.1515/kern-1993-580308
Autor:
H. R. Höche, H. Höfer
Publikováno v:
Physica Status Solidi (a). 134:87-92
Asymmetric geometries in X-ray diffraction are frequently used to reduce the penetration depth, in particular for investigations of single crystal semiconductor materials with near surface layer structures. In these cases the reflecting planes are no
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::22730cafeb4728d6df7bb296bee12907
https://doi.org/10.1002/pssa.2211340106
https://doi.org/10.1002/pssa.2211340106