Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"H. Gaffur"'
Publikováno v:
ICMTS 92 Proceedings of the 1992 International Conference on Microelectronic Test Structures.
Presents new algorithms for the extraction of VLSI MOSFET parameters. The new method, EMPEROR (enhanced MOSFET parameter extraction with regression optimization routines), consists of two major components: (1) the extraction of the threshold voltage
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::27fb3465b4ef5f4795e1a2d9964cdd8f
https://doi.org/10.1109/icmts.1992.185969
https://doi.org/10.1109/icmts.1992.185969
Autor:
P. Nielson, A. Kablanian, B. Eitan, E. Shacham, J. Perry, R. B. Sethi, K. Chhor, M. Shamay, G.A. Rezvani, Graham R. Wolstenholme, H. Gaffur, P. Kauk, R. Kazerounian, Hosam Haggag, L. Anderson, R. Irani, Albert Bergemont, Anirban Roy
Publikováno v:
International Electron Devices Meeting 1991 [Technical Digest].
The alternate metal virtual ground EPROM array (AMG) is introduced as a new scaling concept. This array dramatically reduces cell size by making poly pitch the only limitation in both X and Y directions. The AMG concept scales cell size by sharing on
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0ba28319e860137932fd0ca9f626293e
https://doi.org/10.1109/iedm.1991.235441
https://doi.org/10.1109/iedm.1991.235441
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Case Reports in Dentistry; 11/29/2016, p1-4, 4p
Autor:
Ortiz-Conde, A., Garcia Sanchez, F.J., Liou, J.J., Andrian, J., Laurence, R.J., Schmidt, P.E.
Publikováno v:
Conference Record Southcon; 1994, p262-265, 4p
Publikováno v:
Proceedings of International Conference on Microelectronic Test Structures; 1996, p135-138, 4p
Publikováno v:
Proceedings of the IEEE; 1998, Vol. 86 Issue 12, p2399-2423, 23p
Publikováno v:
Proceedings of the IEEE; 1997, Vol. 85 Issue 8, p1248-1271, 24p