Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Höppner, Katrin"'
Autor:
Lukas, Sebastian, Esteki, Ardeshir, Rademacher, Nico, Jangra, Vikas, Gross, Michael, Wang, Zhenxing, Ngo, Ha Duong, Bäuscher, Manuel, Mackowiak, Piotr, Höppner, Katrin, Wehenkel, Dominique, van Rijn, Richard, Lemme, Max C.
Suspended membranes of monoatomic graphene exhibit great potential for applications in electronic and nanoelectromechanical devices. In this work, a "hot and dry" transfer process is demonstrated to address the fabrication and patterning challenges o
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2408.16408
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Der Einfluss von korrosiven Phänomenen auf mikroelektronischen Systemen ist einer der kritischsten Effekte im Hinblick auf die Langzeitbeständigkeit. Beschleunigte Zuverlässigkeitstests berücksichtigen diese Problematik nur unzureichend. Systeme
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::56256c742a4ba203e91e108424046280
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/237875
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/237875
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Lukas S; Chair of Electronic Devices, RWTH Aachen University, Otto-Blumenthal-Str. 25, 52074 Aachen, Germany., Esteki A; Chair of Electronic Devices, RWTH Aachen University, Otto-Blumenthal-Str. 25, 52074 Aachen, Germany., Rademacher N; AMO GmbH, Advanced Microelectronic Center Aachen, Otto-Blumenthal-Str. 25, 52074 Aachen, Germany., Jangra V; Chair of Electronic Devices, RWTH Aachen University, Otto-Blumenthal-Str. 25, 52074 Aachen, Germany., Gross M; Chair of Electronic Devices, RWTH Aachen University, Otto-Blumenthal-Str. 25, 52074 Aachen, Germany., Wang Z; AMO GmbH, Advanced Microelectronic Center Aachen, Otto-Blumenthal-Str. 25, 52074 Aachen, Germany., Ngo HD; University of Applied Sciences Berlin, Wilhelminenhofstr. 75A (C 525), 12459 Berlin, Germany., Bäuscher M; Fraunhofer IZM, Gustav-Meyer-Allee 25, 13355 Berlin, Germany., Mackowiak P; Fraunhofer IZM, Gustav-Meyer-Allee 25, 13355 Berlin, Germany., Höppner K; Fraunhofer IZM, Gustav-Meyer-Allee 25, 13355 Berlin, Germany., Wehenkel DJ; Applied Nanolayers B.V., Feldmannweg 17, 2628 CT Delft, The Netherlands., van Rijn R; Applied Nanolayers B.V., Feldmannweg 17, 2628 CT Delft, The Netherlands., Lemme MC; Chair of Electronic Devices, RWTH Aachen University, Otto-Blumenthal-Str. 25, 52074 Aachen, Germany.; AMO GmbH, Advanced Microelectronic Center Aachen, Otto-Blumenthal-Str. 25, 52074 Aachen, Germany.
Publikováno v:
ACS nano [ACS Nano] 2024 Sep 17; Vol. 18 (37), pp. 25614-25624. Date of Electronic Publication: 2024 Sep 08.
