Zobrazeno 1 - 10
of 485
pro vyhledávání: '"Högberg, H."'
Autor:
Magnuson, M., Palmquist, J. -P., Mattesini, M., Li, S., Ahuja, R., Eriksson, O., Emmerlich, J., Wilhelmsson, O., Eklund, P., Högberg, H., Hultman, L., Jansson, U.
Publikováno v:
Physical Review B 72, 245101 (2005)
The electronic structures of epitaxially grown films of Ti3AlC2, Ti3SiC2 and Ti3GeC2 have been investigated by bulk-sensitive soft X-ray emission spectroscopy. The measured high-resolution Ti L, C K, Al L, Si L and Ge M emission spectra are compared
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1112.6360
Publikováno v:
In Journal of Crystal Growth 1 February 2018 483:115-120
Autor:
Chubarov, M., Pedersen, H., Högberg, H., Filippov, S., Engelbrecht, J.A.A., O'Connel, J., Henry, A.
Publikováno v:
In Physica B: Physics of Condensed Matter 15 April 2014 439:29-34
Autor:
Furlan, A., Gueorguiev, G.K., Czigány, Zs., Darakchieva, V., Braun, S., Correia, M.R., Högberg, H., Hultman, L.
Publikováno v:
In Thin Solid Films 2 December 2013 548:247-254
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Sarius, N.G., Lauridsen, J., Lewin, E., Lu, J., Högberg, H., Öberg, Å., Ljungcrantz, H., Leisner, P., Eklund, P., Hultman, L.
Publikováno v:
In Surface & Coatings Technology 2012 206(8):2558-2565
Autor:
Lauridsen, J., Eklund, P., Jensen, J., Ljungcrantz, H., Öberg, Å., Lewin, E., Jansson, U., Flink, A., Högberg, H., Hultman, L.
Publikováno v:
In Acta Materialia 2010 58(20):6592-6599
Autor:
Lauridsen, J., Eklund, P., Joelsson, T., Ljungcrantz, H., Öberg, Å., Lewin, E., Jansson, U., Beckers, M., Högberg, H., Hultman, L.
Publikováno v:
In Surface & Coatings Technology 2010 205(2):299-305
Publikováno v:
In Thin Solid Films 2010 518(6):1621-1626