Zobrazeno 1 - 10
of 208
pro vyhledávání: '"Gund, V."'
Autor:
JONES, HAYLEY1
Publikováno v:
New York Law School Law Review. 2022, Vol. 66 Issue 1, p75-95. 21p.
Autor:
Casamento, J., Nomoto, K., Nguyen, T. S., Lee, H., Savant, C., Li, L., Hickman, A., Maeda, T., Encomendero, J., Gund, V., Lal, A., Hwang, J. C. M., Xing, H. G., Jena, D.
Publikováno v:
IEEE IEDM Technical Digest, December 2022
We report the first observation of ferroelectric gating in AlScN barrier wide-bandgap nitride transistors. These FerroHEMT devices realized by direct epitaxial growth represent a new class of ferroelectric transistors in which the semiconductor is it
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2302.14209
Autor:
Casamento, J., Nomoto, K., Nguyen, T. S., Lee, H., Savant, C., Li, L., Hickman, A., Maeda, T., Encomendero, J., Gund, V., Lal, A., Hwang, J. C. M., Xing, H. G., Jena, D.
Publikováno v:
2022 International Electron Devices Meeting (IEDM).
We report the first observation of ferroelectric gating in AlScN barrier wide-bandgap nitride transistors. These FerroHEMT devices realized by direct epitaxial growth represent a new class of ferroelectric transistors in which the semiconductor is it
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
International Journal of Trend in Scientific Research and Development. 2:1282-1286
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Jiang, Zongyi1 (AUTHOR) jian0393@flinders.edu.au, Lee, Yee Sum1 (AUTHOR) lee1961@flinders.edu.au, Wang, Yunzhong1 (AUTHOR) steven.wang@flinders.edu.au, John, Honey1,2 (AUTHOR) honey@cusat.ac.in, Fang, Liming1,3 (AUTHOR) lmfang@scut.edu.cn, Tang, Youhong1 (AUTHOR) lmfang@scut.edu.cn
Publikováno v:
Sensors (14248220). Aug2024, Vol. 24 Issue 16, p5091. 21p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2016 IEEE 29th International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS); 1/1/2016, p1153-1156, 4p
Publikováno v:
2015 28th IEEE International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS); 2015, p1090-1093, 4p