Zobrazeno 1 - 10
of 341
pro vyhledávání: '"Guigui, N."'
Publikováno v:
Geometric Science of Information 2019, Aug 2019, Toulouse, France
In computational anatomy, the statistical analysis of temporal deformations and inter-subject variability relies on shape registration. However, the numerical integration and optimization required in diffeomorphic registration often lead to important
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1906.05921
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Brognara A; Dipartimento di Energia, Micro and Nanostructured Materials Laboratory, Politecnico di Milano, via Ponzio 34/3, Milano, I-20133, Italy.; Department of Structure and Nano/-Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max-Planck-Straße 1, 40237, Düsseldorf, Germany., Bricchi BR; Dipartimento di Energia, Micro and Nanostructured Materials Laboratory, Politecnico di Milano, via Ponzio 34/3, Milano, I-20133, Italy., William L; Laboratoire des Sciences des Procédés et des Matériaux (LSPM), CNRS, Université Sorbonne Paris Nord, Villetaneuse, 93430, France., Brinza O; Laboratoire des Sciences des Procédés et des Matériaux (LSPM), CNRS, Université Sorbonne Paris Nord, Villetaneuse, 93430, France., Konstantakopoulou M; Laboratoire des Sciences des Procédés et des Matériaux (LSPM), CNRS, Université Sorbonne Paris Nord, Villetaneuse, 93430, France., Bassi AL; Dipartimento di Energia, Micro and Nanostructured Materials Laboratory, Politecnico di Milano, via Ponzio 34/3, Milano, I-20133, Italy., Ghidelli M; Dipartimento di Energia, Micro and Nanostructured Materials Laboratory, Politecnico di Milano, via Ponzio 34/3, Milano, I-20133, Italy.; Department of Structure and Nano/-Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max-Planck-Straße 1, 40237, Düsseldorf, Germany.; Laboratoire des Sciences des Procédés et des Matériaux (LSPM), CNRS, Université Sorbonne Paris Nord, Villetaneuse, 93430, France., Lidgi-Guigui N; Laboratoire des Sciences des Procédés et des Matériaux (LSPM), CNRS, Université Sorbonne Paris Nord, Villetaneuse, 93430, France.
Publikováno v:
Small (Weinheim an der Bergstrasse, Germany) [Small] 2022 Jun; Vol. 18 (25), pp. e2201088. Date of Electronic Publication: 2022 May 26.
Publikováno v:
In Surface Science 2008 602(4):1006-1009
Autor:
Decorbie, N., Tijunelyte, I., Gam-Derouich, S., Solard, J., Lamouri, A., Decorse, P., Felidj, N., Gauchotte-Lindsay, C., Rinnert, E., Mangeney, C., Lidgi-Guigui, N.
Publikováno v:
Plasmonics; Oct2020, Vol. 15 Issue 5, p1533-1539, 7p
Autor:
Traut N; Institut Pasteur, Université de Paris, Département de neuroscience, F-75015 Paris, France; Center for Research and Interdisciplinarity (CRI), Université Paris Descartes, Paris, France., Heuer K; Institut Pasteur, Université de Paris, Département de neuroscience, F-75015 Paris, France; Max Planck Institute for Human Cognitive and Brain Sciences, Leipzig, Germany; Center for Research and Interdisciplinarity (CRI), Université Paris Descartes, Paris, France., Lemaître G; Parietal, Inria, Saclay, France; Paris-Saclay Center for Data Science, Université Paris Saclay, Saclay, France., Beggiato A; Institut Pasteur, Université de Paris, Département de neuroscience, F-75015 Paris, France; Child and Adolescent Psychiatry Department, Robert Debré, APHP, Paris, France., Germanaud D; Neurospin CEA, Saclay, France., Elmaleh M; Department of Radiology, Robert Debré, APHP, Paris, France., Bethegnies A; Hosa.io, Paris, France., Bonnasse-Gahot L; Centre d'Analyse et de Mathématique Sociales, EHESS, CNRS, PSL, Paris, France., Cai W; Stanford University School of Medicine, Palo Alto, US., Chambon S; Rythm.co, 75009 Paris., Cliquet F; Institut Pasteur, Université de Paris, Département de neuroscience, F-75015 Paris, France., Ghriss A; University of Colorado, Boulder, US., Guigui N; Neurospin CEA, Saclay, France., de Pierrefeu A; Neurospin CEA, Saclay, France., Wang M; Brainnetome Center and National Laboratory of Pattern Recognition, Institute of Automation, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100190, China; University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, China., Zantedeschi V; Univ Lyon, UJM-Saint-Etienne, CNRS, Institut d'Optique Graduate School, Laboratoire Hubert Curien UMR 5516, F-42023, Saint-Etienne, France., Boucaud A; Parietal, Inria, Saclay, France; Paris-Saclay Center for Data Science, Université Paris Saclay, Saclay, France., van den Bossche J; Parietal, Inria, Saclay, France; Paris-Saclay Center for Data Science, Université Paris Saclay, Saclay, France., Kegl B; Huawei, Paris., Delorme R; Institut Pasteur, Université de Paris, Département de neuroscience, F-75015 Paris, France; Child and Adolescent Psychiatry Department, Robert Debré, APHP, Paris, France., Bourgeron T; Institut Pasteur, Université de Paris, Département de neuroscience, F-75015 Paris, France., Toro R; Institut Pasteur, Université de Paris, Département de neuroscience, F-75015 Paris, France., Varoquaux G; Parietal, Inria, Saclay, France; Soda, Inria, Saclay, France. Electronic address: gael.varoquaux@inria.fr.
Publikováno v:
NeuroImage [Neuroimage] 2022 Jul 15; Vol. 255, pp. 119171. Date of Electronic Publication: 2022 Apr 10.
Autor:
Ding, Xue1 (AUTHOR) pm7g9k5d@s.okayama-u.ac.jp, Murakami, Mana1 (AUTHOR) p1j130so@s.okayama-u.ac.jp, Wang, Jin1 (AUTHOR) wangjin@okayama-u.ac.jp, Inoue, Hirofumi2 (AUTHOR) inoue-h1@cc.okayama-u.ac.jp, Kiwa, Toshihiko1 (AUTHOR) kiwa@ec.okayama-u.ac.jp
Publikováno v:
Sensors (14248220). Nov2024, Vol. 24 Issue 22, p7382. 10p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.