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Dans le domaine de la Compatibilité ElectroMagnétique (CEM), la connaissance du niveau d’immunité ou de susceptibilité d’un équipement embarqué est un paramètre important à contrôler et à gérer tout au long de sa durée de vie. En part
Externí odkaz:
http://www.theses.fr/2014ESAE0054/document
Publikováno v:
CEM 2021-20ème congrès de Compatibilité Electromagnétique
CEM 2021-20ème congrès de Compatibilité Electromagnétique, Apr 2021, Lyon, France
CEM 2021-20ème congrès de Compatibilité Electromagnétique, Apr 2021, Lyon, France
International audience; Cet article aborde la modélisation de systèmes de puissance et plus particulièrement d’électroniques de puissance dédiées au pilotage et contrôle de moteurs électriques afin de traiter au mieux la problématique de C
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::d7d7299b0ae6fa3cdb159e30d09dc599
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03236776/document
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Akademický článek
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Autor:
Guibert, Laurent1 (AUTHOR) laurent.guibert@onera.fr, Parmantier, Jean-Philippe1 (AUTHOR) jean-philippe.parmantier@onera.fr, Junqua, Isabelle1 (AUTHOR) isabelle.junqua@onera.fr, Ridel, Michael1 (AUTHOR) michael.ridel@onera.fr
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility. Feb2022, Vol. 64 Issue 1, p241-250. 10p.
Publikováno v:
2007 18th International Zurich Symposium on Electromagnetic Compatibility; 2007, p397-400, 4p
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov1995, Issue 1, p227-233, 7p
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov1993, Issue 1, p230-234, 5p
Publikováno v:
Optical Engineering; Apr1997, Vol. 36 Issue 4, p992-998, 7p
Publikováno v:
Optical Engineering; Mar1997, Vol. 36 Issue 3, p820-824, 5p
Autor:
Guibert, Laurent, Keryer, Gilles, Servel, Alain, Attia, Mondher, Mackenzie, Harry S., Pellat-Finet, Pierre, De Bougrenet De la Tocnaye, Jean-Louis
Publikováno v:
Optical Engineering; Jan1995, Vol. 34 Issue 1, p135-143, 9p