Zobrazeno 1 - 10
of 587
pro vyhledávání: '"Gronheid R"'
Publikováno v:
In Materials Science in Semiconductor Processing 1 August 2017 66:26-32
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Major advancements in the directed self-assembly (DSA) of block copolymers have shown the technique's strong potential for via layer patterning in advanced technology nodes. Molecular scale pattern precision along with low cost processing promotes DS
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2127::d4538cd772ce28238813592e94d0ec7f
https://pergamos.lib.uoa.gr/uoa/dl/object/uoadl:3035842
https://pergamos.lib.uoa.gr/uoa/dl/object/uoadl:3035842
Autor:
Adan, Ofer, Robinson, John C., Czerkas, S., Gutman, N., Gronheid, R., Gurevich, E., Wang, R., Feler, Y., Zaberchik, M., Grauer, Y., Stoschus, H., Uziel, Y., Pohlmann, U., Laske, F.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; February 2021, Vol. 11611 Issue: 1 p116110B-116110B-6, 1044997p
Autor:
Adan, Ofer, Robinson, John C., Gutman, N., Tarshish, I., Gronheid, R., Dror, C., Michelsson, D., Backhauss, H., Levin, L., Levinski, V., Paskover, Y., Yerushalmi, L., Heidrich, T., Czerkas, S., Pohlmann, U., Laske, F.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; March 2020, Vol. 11325 Issue: 1 p113251X-113251X-7, 1019267p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kunnen, E., Vaglio Pret, A., Luere, O., Azarnouche, L., Pargon, E., Foubert, P., Gronheid, R., Shamiryan, D., Baklanov, M., Boullart, W.
Publikováno v:
56th International AVS Symposium & Topical Conferences
56th International AVS Symposium & Topical Conferences, Oct 2010, Albuquerque (USA), United States
56th International AVS Symposium & Topical Conferences, Oct 2010, Albuquerque (USA), United States
International audience
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::5439abeabc4361559d07ff5281ffda7b
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00644017
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00644017
Autor:
Doise J; Department of Electrical Engineering (ESAT) , KU Leuven , Kasteelpark Arenberg 10 , B-3001 Heverlee , Belgium.; imec , Kapeldreef 75 , B-3001 Heverlee , Belgium., Bezik C; Institute for Molecular Engineering , University of Chicago , 5747 South Ellis Avenue , Chicago , Illinois 60637 , United States., Hori M; JSR Micro N.V. , Technologielaan 8 , B-3001 Leuven , Belgium., de Pablo JJ; Institute for Molecular Engineering , University of Chicago , 5747 South Ellis Avenue , Chicago , Illinois 60637 , United States., Gronheid R; imec , Kapeldreef 75 , B-3001 Heverlee , Belgium.
Publikováno v:
ACS nano [ACS Nano] 2019 Apr 23; Vol. 13 (4), pp. 4073-4082. Date of Electronic Publication: 2019 Mar 21.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.