Development and extraction of high-frequency SPICE models for metal-insulator-metal capacitors.

Autor: Cai, W.Z., Shastri, S.C., Azam, M., Hoggatt, C., Loechelt, G.H., Grivna, G.M., Wen, Y., Dow, S.

Publikováno v: Proceedings of the 2004 International Conference on Microelectronic Test Structures (IEEE Cat. No.04CH37516); 2004, p231-234, 4p

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.