Zobrazeno 1 - 10
of 31
pro vyhledávání: '"Grimal, Virginie"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Reddy, Y. K. Vayunandana, Guegan, Guillaume, Lamhamdi, Mohamed, Grimal, Virginie, Simon, Patrick
To engineer strain relaxation of sputtered BST thin films on Pt-Si wafers, homo-buffer layer method was applied to eliminate Pt hillock formation. Thin BST homo-buffer layers were deposited at room temperature and subsequently the main BST layer was
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1309.1615
Autor:
Lez, Corentin Le, ALLANIc, Rozenn, Berre, Denis Le, Quendo, Cedric, Leuliet, Aude, Merlet, Thomas, Sauvage, Rose-Marie, Grimal, Virginie, Billoue, Jerome
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters; 2024, Vol. 45 Issue: 3 p304-307, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Silva de Vasconcellos, Douglas, Dailleau, Romain, Grimal, Virginie, Defforge, Thomas, Billoue, Jérôme, Gautier, Gaël
Publikováno v:
In Materials Science in Semiconductor Processing 15 March 2023 156
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Le Lez, Corentin, Allanic, Rozenn, Le Berre, Denis, Quendo, Cédric, Sauvage, Rose-Marie, Leuliet, Aude, Merlet, Thomas, de Vasconcellos, Douglas Silva, Grimal, Virginie, Valente, Damien, Billoue, Jérôme
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______166::01049430793cba5a6f751d86e55f22f6
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03785383
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03785383