Zobrazeno 1 - 10
of 70
pro vyhledávání: '"Grauby, Stéphane"'
Autor:
Féger, Lucile, Escorihuela-Sayalero, Carlos, Rampnoux, Jean-Michel, Kontou, Kyriaki, Bah, Micka, Íñiguez-González, Jorge, Cazorla, Claudio, Monot-Laffez, Isabelle, Douri, Sarah, Grauby, Stéphane, Rurali, Riccardo, Dilhaire, Stefan, Gomès, Séverine, Nataf, Guillaume F.
Publikováno v:
Phys. Rev. Materials 8, 094403 (2024)
Materials with on-demand control of thermal conductivity are the prerequisites to build thermal conductivity switches, where the thermal conductivity can be turned ON and OFF. However, the ideal switch, while required to develop novel approaches to s
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2409.05216
Autor:
Altet, Josep, González, José Luis, Gomez, Dídac, Perpiñà, Xavier, Claeys, Wilfrid, Grauby, Stephane, Dufis, Cedric, Vellvehi, Miquel, Mateo, Diego, Reverter, Ferran, Dilhaire, Stefan, Jordà, Xavier
Publikováno v:
In Microelectronics Journal May 2014 45(5):484-490
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Grauby, Stéphane, Patino Lopez, Luis-David, Salhi, Amine, Puyoo, Etienne, Rampnoux, Jean-Michel, Claeys, Wilfrid, Dilhaire, Stefan
Publikováno v:
In Microelectronics Journal September 2009 40(9):1367-1372
Autor:
Grauby, Stéphane, Salhi, Amine, Patino Lopez, Luis-David, Claeys, Wilfrid, Charlot, Benoît, Dilhaire, Stefan
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2008 48(2):204-211
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronics Journal October 2004 35(10):811-816
Characterization of the thermal behavior of PN thermoelectric couples by scanning thermal microscope
Autor:
Lopez, Luis David Patiño *, Grauby, Stéphane, Dilhaire, Stefan, Amine Salhi, M., Claeys, Wilfrid, Lefèvre, Stéphane, Volz, Sebastian
Publikováno v:
In Microelectronics Journal October 2004 35(10):797-803
Autor:
Patiño-Lopez, Luis-David, Amine Salhi, M., Dilhaire, Stefan, Grauby, Stéphane, Rampnoux, Jean-Michel, Jorez, Sébastien, Claeys, Wilfrid
Publikováno v:
In Superlattices and Microstructures 2004 35(3):375-387
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2003 43(9):1609-1613