Zobrazeno 1 - 10
of 1 082
pro vyhledávání: '"Grasser T"'
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 8/28/2024, Vol. 136 Issue 8, p1-9, 9p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Solid State Electronics November 2021 185
Autor:
Grill, A., Stampfer, B., Im, Ki-Sik, Lee, J.-H., Ostermaier, C., Ceric, H., Waltl, M., Grasser, T.
Publikováno v:
In Solid State Electronics June 2019 156:41-47
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August 2018 87:286-320
Autor:
Rzepa, G., Franco, J., O’Sullivan, B., Subirats, A., Simicic, M., Hellings, G., Weckx, P., Jech, M., Knobloch, T., Waltl, M., Roussel, P.J., Linten, D., Kaczer, B., Grasser, T.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability June 2018 85:49-65
Autor:
Kaczer, B., Franco, J., Weckx, P., Roussel, Ph.J., Putcha, V., Bury, E., Simicic, M., Chasin, A., Linten, D., Parvais, B., Catthoor, F., Rzepa, G., Waltl, M., Grasser, T.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability February 2018 81:186-194
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
The defect-centric perspective of device and circuit reliability—From gate oxide defects to circuits
Autor:
Kaczer, B., Franco, J., Weckx, P., Roussel, Ph.J., Simicic, M., Putcha, V., Bury, E., Cho, M., Degraeve, R., Linten, D., Groeseneken, G., Debacker, P., Parvais, B., Raghavan, P., Catthoor, F., Rzepa, G., Waltl, M., Goes, W., Grasser, T.
Publikováno v:
In Solid State Electronics November 2016 125:52-62