Výsledky vyhledávání - "Graas, C.D."

Conference

Electromigration reliability improvement of W-plug vias by titanium layering.

Autor: Graas, C.D., Le, H.A., McPherson, J.W., Havemann, R.H.

Publikováno v: Proceedings of 1994 IEEE International Reliability Physics Symposium; 1994, p173-177, 5p

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Impact of test structure design on electromigration lifetime measurements.

Autor: Ting, L.M., Graas, C.D.

Publikováno v: Proceedings of 1995 IEEE International Reliability Physics Symposium; 1995, p326-332, 7p

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Correlations between initial via resistance and reliability performance.

Autor: Graas, C.D., Le, H.A., Rosi, T.A.

Publikováno v: 1997 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings 35th Annual; 1997, p44-48, 5p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Conference

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.