Zobrazeno 1 - 10
of 33
pro vyhledávání: '"Graßl T"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
In the last 30 years, several organizations, such as the US Association for the Advancement of Medical Instrumentation (AAMI), the British Hypertension Society, the European Society of Hypertension (ESH) Working Group on Blood Pressure (BP) Monitorin
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::5e6b865706e5e726841955450bc3c220
https://pergamos.lib.uoa.gr/uoa/dl/object/uoadl:3085644
https://pergamos.lib.uoa.gr/uoa/dl/object/uoadl:3085644
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Utilizing substrate damage introduced by MERIE of single crystal silicon for selective CVD of oxide.
Autor:
Engelhardt, M., Grassl, T.
Publikováno v:
1998 3rd International Symposium on Plasma Process-Induced Damage (Cat No98EX100); 1998, p92-95, 4p
Autor:
Bollmann, D., Braun, R., Buchner, R., Cao-Minh, U., Engelhardt, M., Errmann, G., Grassl, T., Hieber, K., Hubner, H., Kawala, G., Kleiner, M., Klumpp, A., Kuhn, S., Landesberger, C., Lezec, H., Muth, W., Pamler, W., Popp, R., Renner, E., Ruhl, G.
Publikováno v:
European Workshop Materials for Advanced Metallization,; 1998, p94-98, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ramm, P., Bollmann, D., Braun, R., Buchner, R., Cao-Minh, U., Engelhardt, M., Errmann, G., Grassl, T., Hieber, K., Huebner, H.
Publikováno v:
Microelectronic Engineering; 1997, Vol. 37 Issue: 1 p39-48, 10p