Zobrazeno 1 - 10
of 21
pro vyhledávání: '"Gowan, M.K."'
Autor:
Preston, R.P., Badeau, R.W., Bailey, D.W., Bell, S.L., Biro, L.L., Bowhill, W.J., Dever, D.E., Felix, S., Gammack, R., Germini, V., Gowan, M.K., Gronowski, P., Jackson, D.B., Mehta, S., Morton, S.V., Pickholtz, J.D., Reilly, M.H., Smith, M.J.
Publikováno v:
2002 IEEE International Solid-State Circuits Conference. Digest of Technical Papers (Cat. No.02CH37315); 2002, p266-500, 235p
Publikováno v:
Proceedings International Test Conference 1998 (IEEE Cat No98CH36270); 1998, p487-495, 9p
Publikováno v:
IEEE Journal of Solid-State Circuits; 1998, Vol. 33 Issue 5, p676-686, 11p
Autor:
Benschneider, B.J., Black, A.J., Bowhill, W.J., Britton, S.M., Dever, D.E., Donchin, D.R., Dupcak, R.J., Fromm, R.M., Gowan, M.K., Gronowski, P.E., Kantrowitz, M., Lamere, M.E., Mehta, S., Meyer, J.E., Mueller, R.O., Olesin, A., Preston, R.P., Priore, D.A., Santhanam, S., Smith, M.J.
Publikováno v:
IEEE Journal of Solid-State Circuits; 1995, Vol. 30 Issue 11, p1203-1214, 12p
Autor:
Badeau, R.W., Bahar, R.I., Bernstein, D., Biro, L.L., Bowhill, W.J., Brown, J.F., Case, M.A., Castelino, R.W., Cooper, E.M., Delaney, M.A., Deverell, D.R., Edmonson, J.H., Ellis, J.J., Fischer, T.C., Fox, T.F., Gowan, M.K., Gronowski, P.E., Herrick, W.V., Jain, A.K., Meyer, J.E.
Publikováno v:
IEEE Journal of Solid-State Circuits; 1992, Vol. 27 Issue 11, p1585-1598, 14p
Publikováno v:
2001 IEEE International Solid-State Circuits Conference. Digest of Technical Papers. ISSCC (Cat. No.01CH37177); 2001, p402-403, 2p
Autor:
Gieseke, B.A., Allmon, R.L., Bailey, D.W., Benschneider, B.J., Britton, S.M., Clouser, J.D., Fair, H.R., Farrell, J.A., Gowan, M.K., Houghton, C.L., Keller, J.B., Lee, T.H., Leibholz, D.L., Lowell, S.C., Matson, M.D., Matthew, R.J., Peng, V., Quinn, M.D., Priore, D.A., Smith, M.J.
Publikováno v:
1997 IEEE International Solids-State Circuits Conference Digest of Technical Papers; 1997, p176-177, 2p
Autor:
Gronowski, P.E., Bannon, P., Bertone, M.S., Blake-Campos, R.P., Bouchard, G.A., Bowhill, W.J., Carlson, D.A., Castelino, R.W., Donchin, D.R., Fromm, R.M., Gowan, M.K., Jain, A.K., Loughlin, B.J., Mehta, S., Meyer, J.E., Mueller, R.O., Olesin, A., Pham, T.N., Preston, R.P., Rubinfeld, P.I.
Publikováno v:
1996 IEEE International Solid-State Circuits Conference Digest of TEchnical Papers, ISSCC; 1996, p222-223, 2p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.