Zobrazeno 1 - 10
of 302
pro vyhledávání: '"Gossner, H."'
Autor:
Gossner, H., Duvvury, C.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability December 2015 55(12) Part B:2607-2613
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2010 50(9):1359-1366
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Soldner, W., Streibl, M., Hodel, U., Tiebout, M., Gossner, H., Schmitt-Landsiedel, D., Chun, J.H., Ito, C., Dutton, R.W.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2007 47(7):1008-1015
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Streibl, M., Zängl, F., Esmark, K., Schwencker, R., Stadler, W., Gossner, H., Drüen, S., Schmitt-Landsiedel, D.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2005 45(2):313-321
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2003 43(7):1001-1010
Autor:
Stadler, W., Esmark, K., Gossner, H., Streibl, M., Wendel, M., Fichtner, W., Pogany, D., Litzenberger, M., Gornik, E.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2002 42(9):1267-1274
Autor:
Litzenberger, M., Pichler, R., Bychikhin, S., Pogany, D., Gornik, E., Esmark, K., Gossner, H.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2001 41(9):1385-1390