Zobrazeno 1 - 10
of 16
pro vyhledávání: '"Gos W"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2011 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report; 1/ 1/2011, p27-31, 5p
Publikováno v:
2009 13th International Workshop on Computational Electronics; 2009, p1-4, 4p
Publikováno v:
2009 IEEE International Reliability Physics Symposium; 2009, p1033-1038, 6p
Publikováno v:
2009 IEEE International Reliability Physics Symposium; 2009, p514-522, 9p
Publikováno v:
2007 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings 45th Annual; 2007, p268-280, 13p
Publikováno v:
2007 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report; 2007, p6-11, 6p
Autor:
Grasser, T., Kaczer, B., Hehenberger, P., Gos, W., O'Connor, R., Reisinger, H., Gustin, W., Schunder, C.
Publikováno v:
2007 IEEE International Electron Devices Meeting; 2007, p801-804, 4p