Zobrazeno 1 - 10
of 504
pro vyhledávání: '"Goovaerts, E."'
Autor:
Velázquez Rodriguez, D., Gómez, J.E., Alejandro, G., Avilés Félix, L., van Landeghem, M., Goovaerts, E., Butera, A.
Publikováno v:
In Journal of Magnetism and Magnetic Materials 15 June 2020 504
Isotopic substitution of boron and carbon is applied for the identification of the vibrational modes of heavily boron-doped diamond synthesized by high-pressure high-temperature technique. None of the bands in the Raman spectra are shifting upon ^{10
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/0801.1611
Autor:
Van Dorpe, P., Motsnyi, V. F., Nijboer, M., Goovaerts, E., Safarov, V. I., Das, J., Van Roy, W., Borghs, G., De Boeck, J.
Publikováno v:
Jpn. J. Appl. Phys. Vol.42 No.5B pp.L502 - L504 (2003)
We demonstrate highly efficient spin injection at low and room temperature in an AlGaAs/GaAs semiconductor heterostructure from a CoFe/AlOx tunnel spin injector. We use a double-step oxide deposition for the fabrication of a pinhole-free AlOx tunnel
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/cond-mat/0208325
Autor:
Motsnyi, V. F., Safarov, V. I., De Boeck, J., Das, J., Van Roy, W., Goovaerts, E., Borghs, G.
Publikováno v:
APL 81, 265 (2002)
We demonstrate experimentally the electrical ballistic electron spin injection from a ferromagnetic metal / tunnel barrier contact into a semiconductor III-V heterostructure. We introduce the Oblique Hanle Effect technique for reliable optical measur
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/cond-mat/0110240
Publikováno v:
In Optical Materials 2011 33(6):865-871
Publikováno v:
In Journal of Magnetic Resonance September 2009 200(1):29-37
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronics Journal November 2004 35(11):875-880