Zobrazeno 1 - 10 of 33 pro vyhledávání: '"Gonchond, J.P."'
1
Akademický článek
X-ray metrology for advanced silicon processes
Autor: Wyon, C., Gonchond, J.P., Delille, D., Michallet, A., Royer, J.C., Kwakman, L., Marthon, S.
Publikováno v: In Applied Surface Science 2006 253(1):21-27
Zobrazit plný text záznamu
4
Conference
Thin films interfacial adhesion characterization by Cross-Sectional Nanoindentation: Application to pad structures.
Autor: Gallois-Garreignot, S., Chave, F., Gonchond, J.P., Gautheron, B., Fiori, V., Nelias, D.
Publikováno v: 11th Electronics Packaging Technology Conference, 2009. EPTC '09; 2009, p947-952, 6p
Zobrazit plný text záznamu
5
Conference
3D Multi-Frequency MEMS Electromechanical Resonator Design.
Autor: Casset, F., Durand, C., Dedieu, S., Carpentier, J.F., Gonchond, J.P., Ancey, P., Robert, P.
Publikováno v: EuroSimE 2009 - 10th International Conference on Thermal, Mechanical & Multi-Physics Simulation & Experiments in Microelectronics & Microsystems; 2009, p1-5, 5p
Zobrazit plný text záznamu
6
Conference
Gate oxide breakdown behaviour in a mesa SOI CMOS process.
Autor: Haond, M., Le Neel, O., Mascarin, G., Gonchond, J.P.
Publikováno v: IEEE SOS/SOI Technology Conference; 1989, p68-69, 2p
Zobrazit plný text záznamu
7
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
8
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
9
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
10
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje