Zobrazeno 1 - 10
of 29
pro vyhledávání: '"Gomiero, E."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Redaelli, A., Gandolfo, A., Samanni, G., Gomiero, E., Petroni, E., Scotti, L., Lippiello, A., Mattavelli, P., Jasse, J., Codegoni, D., Serafini, A., Ranica, R., Boccaccio, C., Sandrini, J., Berthelon, R., Grenier, Jc., Weber, O., Turgis, D., Valery, A., Del Medico, S., Caubet, V., Reynard, Jp., Dutartre, D., Favennec, L., Conte, A., Disegni, F., De Tomasi, M., Ventre, A., Baldo, M., Ielmini, D., Maurelli, A., Ferreira, P., Arnaud, F., Piazza, F., Cappelletti, P., Annunziata, R., Gonella, R.
Publikováno v:
ESSDERC 2021 - IEEE 51st European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC).
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Pio, F., Gomiero, E.
Publikováno v:
ICMTS 2000. Proceedings of the 2000 International Conference on Microelectronic Test Structures (Cat. No.00CH37095); 2000, p217-222, 6p
Autor:
Annunziata, R., Bottini, R., Colpani, P., Cremonesi, C., Ghidini, G., Gomiero, E., Pavia, G., Pio, F., Polignano, M. L., Servalli, G., Higgs, V.
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; 2000, Vol. 610 Issue 1, p1-6, 6p
Autor:
Piazza, F., Boccaccio, C., Bruyere, S., Cea, R., Clark, B., Degors, N., Collins, C., Gandolfo, A., Gilardini, A., Gomiero, E., Mans, P.M., Mastracchio, G., Pacelli, D., Planes, N., Simon, J., Weybright, M., Maurelli, A.
Publikováno v:
2010 IEEE International Memory Workshop (IMW); 2010, p1-3, 3p
Autor:
Conte, A., Matranga, G., De Costantini, D., Micciche, M., Ucciardello, C., Di Martino, A., Granata, F., Castagna, A., Zuliani, P., Gomiero, E., Annunziata, R., Devin, F.J., Acland, J., Sonzogni, J.
Publikováno v:
2008 Joint Non-Volatile Semiconductor Memory Workshop & International Conference on Memory Technology & Design; 2008, p28-30, 3p
Autor:
Pio, F *, Gomiero, E
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 1 April 2000 40(4-5):719-722
Publikováno v:
Microelectronics Reliability; 1998, Vol. 38 Issue: 2 p189-194, 6p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.