Zobrazeno 1 - 10
of 34
pro vyhledávání: '"Goings, J."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2000 40(3):465-476
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 11/24/2018, Vol. 10900, p1-10, 10p
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 3/6/2018, Vol. 10637, p1-11, 11p
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 10/17/2017, Vol. 10514, p1-10, 10p
Autor:
Zediker, Mark S., Walker, R., Thiagarajan, P., Ruben, E., Maillard, J. M., Caliva, B., Goings, J., West, L.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; March 2019, Vol. 10900 Issue: 1 p109000J-109000J-10, 10791011p
Autor:
Dubinskiy, Mark, Newell, Timothy C., Thiagarajan, P., Goings, J., Caliva, Brian, Ruben, E., Walker, R.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; May 2018, Vol. 10637 Issue: 1 p106370G-106370G-11, 10530642p
Autor:
Zediker, Mark S., Crawford, D., Thiagarajan, P., Goings, J., Caliva, B., Smith, S., Walker, R.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; February 2018, Vol. 10514 Issue: 1 p105140H-105140H-10, 10408871p
Autor:
Glebov, Alexei L., Leisher, Paul O., Woods, L., Crowley, M., Thiagarajan, P., Ruben, E., Goings, J., Hosoda, T., Rowe, M., Liu, B., Caliva, B., Crapo, N.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 12/30/2020, Vol. 11667, p1166703-1166703, 1p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.