Výsledky vyhledávání - "Goh, Jason Y.L."

Akademický článek

Sub-pixel image correlation: an alternative to SAM and dye penetrant for crack detection and mechanical stress localisation in semiconductor packages

Autor: Goh, Jason Y.L., Pitter, Mark C., See, Chung W., Somekh, Michael G., Vanderstraeten, Daniel

Publikováno v: In Microelectronics Reliability 2004 44(2):259-267

Zobrazit plný text záznamu