Zobrazeno 1 - 10
of 56
pro vyhledávání: '"Goel, Sandeep Kumar"'
Autor:
Goel, Sandeep Kumar1 sandeepgoel@andc.du.ac.in, Jain, Stuti2 stutij231@gmail.com, Sachdeva, Radhika3 radhikasachdeval4@gmail.com
Publikováno v:
Integral Review: A Journal of Management. Jan-Jun2023, Vol. 13 Issue 1, p2-9. 8p.
Publikováno v:
Dans Design, Automation and Test in Europe - DATE'05, Munich : Allemagne (2005)
Multi-site testing is a popular and effective way to increase test throughput and reduce test costs. We present a test throughput model, in which we focus on wafer testing, and consider parameters like test time, index time, abort-on-fail, and contac
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/0710.4687
Publikováno v:
Optimization: Journal of Research in Management. 2022, Vol. 14 Issue 1, p32-40. 9p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Gope, Deepayan, Goel, Sandeep Kumar
Publikováno v:
International Journal of Emerging Electric Power Systems; Feb2021, Vol. 22 Issue 1, p9-20, 12p
Autor:
Gope, Deepayan, Goel, Sandeep Kumar
Publikováno v:
International Journal of Emerging Electric Power Systems; December 2020, Vol. 22 Issue: 1 p9-20, 12p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Goel, Sandeep Kumar
Advances in the semiconductor process technology enable the creation of a complete system on one single die, the so-called system chip or SOC. To reduce time-to-market for large SOCs, reuse of pre-designed and pre-veried blocks called cores is employ
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=narcis______::bf3ba786131f1f95194c4f9e6dc947d4
https://research.utwente.nl/en/publications/testaccess-planning-and-test-scheduling-for-embedded-corebased-system-chips(6068b0a0-276c-4189-b085-ebfc481b2148).html
https://research.utwente.nl/en/publications/testaccess-planning-and-test-scheduling-for-embedded-corebased-system-chips(6068b0a0-276c-4189-b085-ebfc481b2148).html
Publikováno v:
2015 IEEE International Test Conference (ITC); 2015, p1-10, 10p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.