Zobrazeno 1 - 10 of 26 pro vyhledávání: '"Goben, C. A."'
1
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
2
Conference
Neural network approach to zero-one optimal covering problem.
Autor: Khan, A. R., Marudarajan, A. R., Goben, C. A.
Publikováno v: Proceedings of the 24th Annual Symposium: Simulation; 4/ 1/1991, p8-17, 10p
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Comparison of the effects of ionizing radiation at twelve dose rates from 0.0015 to 100 rad(Si)/s.
Autor: Goben, C., Price, W., Coss, J.
Publikováno v: Journal of Electronic Materials; Jul1990, Vol. 19 Issue 7, p609-615, 7p
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
Nuclear Radiation Enhancement of Transistor Forward Gain at High Frequencies.
Autor: Goben, C. A., Gray, D. L., Han, Y. P.
Publikováno v: IEEE Transactions on Nuclear Science; 1970, Vol. 17 Issue 6, p380-388, 9p
Zobrazit plný text záznamu
5
Akademický článek
Neutron Dependence of Neutral Base Region Recombination.
Autor: Bereisa, J., Goben, C. A.
Publikováno v: IEEE Transactions on Nuclear Science; 1970, Vol. 17 Issue 6, p317-324, 8p
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
Electric Field Strength Dependence of Surface Damage in Oxde Passivated Silicon Planar Transistors.
Autor: Goben, C. A., Irani, C. H.
Publikováno v: IEEE Transactions on Nuclear Science; 1970, Vol. 17 Issue 6, p18-26, 9p
Zobrazit plný text záznamu
7
Akademický článek
Neutron Fluence and Electric Field Strength Dependencies of the Rate of Volume Damage Introduction in Silicon P-N Junctions.
Autor: Goben, C. A., Irani, C. H., Johnson, P. E.
Publikováno v: IEEE Transactions on Nuclear Science; 1969, Vol. 16 Issue 6, p43-52, 10p
Zobrazit plný text záznamu
8
Akademický článek
Radiation and Annealing Characteristics of Neutron Bombarded Silicon Transistors.
Autor: Su, L. S., Gassner, G. E., Goben, C. A.
Publikováno v: IEEE Transactions on Nuclear Science; 1968, Vol. 15 Issue 6, p95-107, 13p
Zobrazit plný text záznamu
9
Akademický článek
Recombination Statistics for Neutron Bombarded Silicon Transistors.
Autor: Chow, M. C., Azarewicz, J. L., Goben, C. A.
Publikováno v: IEEE Transactions on Nuclear Science; 1968, Vol. 15 Issue 6, p88-94, 7p
Zobrazit plný text záznamu
10
Akademický článek
Neutron Radiation Damage in Silicon Transistors.
Autor: Goben, C. A., Smits, F. M., Wirth, J. L.
Publikováno v: IEEE Transactions on Nuclear Science; 1968, Vol. 15 Issue 2, p14-29, 16p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje