Zobrazeno 1 - 10
of 287
pro vyhledávání: '"Gilard O"'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2023 150
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 11/14/2021, Vol. 130 Issue 18, p1-6, 6p
Autor:
Michaud, J., Pedroza, G., Béchou, L., How, L.S., Gilard, O., Veyrié, D., Laruelle, F., Grauby, S.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August-September 2015 55(9-10):1746-1749
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September-November 2011 51(9-11):1999-2003
Autor:
Sun, G.C., Rao, R., Makham, S., Bourgoin, J.C., Zhang, X.Y., Gohier, R., Masiello, F., Härtwig, J., Baruchel, J., Ponchut, C., Balocchi, A., Marie, X., Gilard, O., Roch-Jeune, I., Pesant, J.C.
Publikováno v:
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 2011 633 Supplement 1:S65-S68
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Optics and Laser Technology 2008 40(4):589-601
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2008 48(8):1494-1499
Autor:
Bourqui, M.L., Béchou, L., Gilard, O., Deshayes, Y., Vecchio, P. Del, How, L.S., Rosala, F., Ousten, Y., Touboul, A.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2008 48(8):1202-1207
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.