Zobrazeno 1 - 10
of 81
pro vyhledávání: '"Gignac, L.M."'
Autor:
Hu, C.-K., Canaperi, D., Chen, S.T., Gignac, L.M., Kaldor, S., Krishnan, M., Malhotra, S.G., Liniger, E., Lloyd, J.R., Rath, D.L., Restaino, D., Rosenberg, R., Rubino, J., Seo, S.-C., Simon, A., Smith, S., Tseng, W.-T.
Publikováno v:
In Thin Solid Films 2006 504(1):274-278
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2003 70(2):398-405
Autor:
Filippi, R.G *, Gribelyuk, M.A, Joseph, T, Kane, T, Sullivan, T.D, Clevenger, L.A, Costrini, G, Gambino, J, Iggulden, R.C, Kiewra, E.W, Ning, X.J, Ravikumar, R, Schnabel, R.F, Stojakovic, G, Weber, S.J, Gignac, L.M, Hu, C.-K, Rath, D.L, Rodbell, K.P
Publikováno v:
In Thin Solid Films 2001 388(1):303-314
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Sleight, J.W., Bangsaruntip, S., Majumdar, A., Cohen, G.M., Zhang, Y., Engelmann, S.U., Fuller, N.C.M., Gignac, L.M., Mittal, S., Newbury, J.S., Frank, M.M., Chang, J., Guillorn, M.
Publikováno v:
2010 Device Research Conference (DRC); 2010, p269-272, 4p
Autor:
Bangsaruntip, S., Cohen, G.M., Majumdar, A., Zhang, Y., Engelmann, S.U., Fuller, N., Gignac, L.M., Mittal, S., Newbury, J.S., Guillorn, M., Barwicz, T., Sekaric, L., Frank, M.M., Sleight, J.W.
Publikováno v:
2009 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM); 2009, p1-4, 4p
Autor:
Ohuchi, K., Lavoie, C., Murray, C.E., D'Emic, C.P., Lauer, I., Chu, J.O., Bin Yang, Besser, P., Gignac, L.M., Bruley, J., Singco, G.U., Pagette, F., Topol, A.W., Rooks, M.J., Bucchignano, J.J., Narayanan, V., Khare, M., Takayanagi, M., Ishimaru, K., Dae-Gyu Park
Publikováno v:
Extended Abstracts - 2008 8th International Workshop on Junction Technology (IWJT '08); 2008, p150-153, 4p
Autor:
Hu, C.-K., Canaperi, D., Chen, S.T., Gignac, L.M., Herbst, B., Kaldor, S., Krishnan, M., Liniger, E., Rath, D.L., Restaino, D., Rosenberg, R., Rubino, J., Seo, S.-C., Simon, A., Smith, S., Tseng, W.-T.
Publikováno v:
Proceedings of the 2004 IEEE International Reliability Physics Symposium; 2004, p222-228, 7p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Proceedings of the IEEE 2001 International Interconnect Technology Conference (Cat. No.01EX461); 2001, p263-265, 3p