Zobrazeno 1 - 10
of 23
pro vyhledávání: '"Ghofrani, Amirali"'
Autor:
Ghofrani, Amirali
Publikováno v:
Ghofrani, Amirali. (2016). Towards Data Reliable, Low-Power, and Repairable Resistive Random Access Memories. 0035: Electrical & Computer Engineering. Retrieved from: http://www.escholarship.org/uc/item/4v22d8gz
A series of breakthroughs in memristive devices have demonstrated the potential of memristor arrays to serve as next generation resistive random access memories (ReRAM), which are fast, low-power, ultra-dense, and non-volatile. However, memristors' u
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______325::15b939567136dc4e324ce8aa99fb963a
http://www.escholarship.org/uc/item/4v22d8gz
http://www.escholarship.org/uc/item/4v22d8gz
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2016 IEEE International Symposium on High Performance Computer Architecture (HPCA); 2016, p102-113, 12p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Rofeh, Justin, Sodhi, Avantika, Payvand, Melika, Lastras-Montano, Miguel Angel, Ghofrani, Amirali, Madhavan, Advait, Yemenicioglu, Sukru, Cheng, Kwang-Ting, Theogarajan, Luke
Publikováno v:
2015 IEEE 65th Electronic Components & Technology Conference (ECTC); 2015, p957-962, 6p
Publikováno v:
Proceedings of the 2015 IEEE/ACM International Symposium on Nanoscale Architectures (NANOARCH'15); 2015, p1-6, 6p
Autor:
Payvand, Melika, Madhavan, Advait, Lastras-Montano, Miguel Angel, Ghofrani, Amirali, Rofeh, Justin, Cheng, Kwang-Ting, Strukov, Dmitri, Theogarajan, Luke
Publikováno v:
2015 IEEE International Symposium on Circuits & Systems (ISCAS); 2015, p1378-1381, 4p
Publikováno v:
20th Asia & South Pacific Design Automation Conference; 2015, p563-568, 6p
Publikováno v:
2015 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE); 2015, p1497-1502, 6p
Publikováno v:
2015 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE); 2015, p1299-1304, 6p