Zobrazeno 1 - 10
of 96
pro vyhledávání: '"Ghanbari, R. A."'
Autor:
Nygård, K., McDonald, S. A., González, J. B., Haghighat, V., Appel, C., Larsson, E., Ghanbari, R., Viljanen, M., Silva, J., Malki, S., Li, Y., Silva, V., Weninger, C., Engelmann, F., Jeppsson, T., Felcsuti, G., Rosén, T., Gordeyeva, K., Söderberg, L. D., Dierks, H., Zhang, Y., Yao, Z., Yang, R., Asimakopoulou, E. M., Rogalinski, J. K., Wallentin, J., Villanueva-Perez, P., Krüger, R., Dreier, T., Bech, M., Liebi, M., Bek, M., Kádár, R., Terry, A. E., Tarawneh, H., Ilinski, P., Malmqvist, J., Cerenius, Y.
The ForMAX beamline at the MAX IV Laboratory provides multiscale and multimodal structural characterization of hierarchical materials in the nm to mm range by combining small- and wide-angle x-ray scattering with full-field microtomography. The modul
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2312.07904
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Iranian Journal of Numerical Analysis & Optimization; 2024, Vol. 14 Issue 2, p522-544, 23p
Publikováno v:
In Applied Surface Science 1 November 2018 457:303-314
Publikováno v:
International Archives of the Photogrammetry, Remote Sensing & Spatial Information Sciences; 2024, Vol. 48 Issue 4/W9, p189-196, 8p
Publikováno v:
In Journal of Molecular Liquids September 2016 221:673-684
Autor:
Sagalowicz, L., Moccand, C., Davidek, T., Ghanbari, R., Martiel, I., Negrini, R., Mezzenga, R., Leser, M. E., Blank, I., Michel, M.
Publikováno v:
Philosophical Transactions: Mathematical, Physical and Engineering Sciences, 2016 Jul . 374(2072), 1-21.
Externí odkaz:
http://www.jstor.org/stable/24760281
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In European Journal of Operational Research 1 June 2015 243(2):658-664
Autor:
Borna, K., Ghanbari, R.
Publikováno v:
Neural Network World; 2023, Issue 3, p161-169, 9p