Zobrazeno 1 - 10 of 55 pro vyhledávání: '"Gaudestad, J."'
1
Akademický článek
Magnetic Field Imaging for non destructive 3D IC testing
Autor: Gaudestad, J., Orozco, A.
Publikováno v: In Microelectronics Reliability September-October 2014 54(9-10):2093-2098
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Opens localization on silicon level in a Chip Scale Package using space domain reflectometry
Autor: Gaudestad, J., Talanov, V., Marchetti, M.
Publikováno v: In Microelectronics Reliability September-November 2013 53(9-11):1418-1421
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Space Domain Reflectometry for opens detection location in microbumps
Autor: Gaudestad, J., Talanov, V., Huang, P.C.
Publikováno v: In Microelectronics Reliability September-October 2012 52(9-10):2123-2126
Zobrazit plný text záznamu
4
Periodical
High speed roughness measurement on blank silicon wafers using wave front phase imaging
Autor: Adan, Ofer, Robinson, John C., Trujillo-Sevilla, J. M., Rodríguez-Ramos, J. M., Gaudestad, J.
Publikováno v: Proceedings of SPIE; March 2020, Vol. 11325 Issue: 1 p113252W-113252W-11, 11211960p
Zobrazit plný text záznamu
5
Periodical
Wave front phase imaging of wafer geometry using high pass filtering to reveal nanotopography
Autor: Soskind, Yakov, Busse, Lynda E., Trujillo-Sevilla, J. M., Ramos-Rodríguez, J. M., Gaudestad, J.
Publikováno v: Proceedings of SPIE; March 2020, Vol. 11287 Issue: 1 p112870W-112870W-11, 11174142p
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
7
Periodical
High-resolution wave front phase sensor for silicon wafer metrology
Autor: Soskind, Yakov G., Trujillo-Sevilla, J. M., Casanova Gonzalez, O., Bonaque-González, S., Gaudestad, J., Rodríguez Ramos, J. M.
Publikováno v: Proceedings of SPIE; March 2019, Vol. 10925 Issue: 1 p109250I-109250I-10, 10815761p
Zobrazit plný text záznamu
8
Conference
High resolution Magnetic Current Imaging for die level short localization.
Autor: Gaudestad, J., Gagliolo, N., Talanov, V. V., Yeh, R. H., Ma, C. J.
Publikováno v: Proceedings of the 20th IEEE International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA); 2013, p347-350, 4p
Zobrazit plný text záznamu
9
Conference
Non-destructive open fault isolation in flip-chip devices with space-domain reflectometry.
Autor: Qiu, W., Tan, S.C., Tay, M.Y., Gaudestad, J., Talanov, V.V., Wei, M.S.
Publikováno v: Proceedings of the 20th IEEE International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA); 2013, p332-336, 5p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje