Zobrazeno 1 - 10
of 77
pro vyhledávání: '"Gaudestad, J."'
Autor:
Gaudestad, J., Orozco, A.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September-October 2014 54(9-10):2093-2098
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September-November 2013 53(9-11):1418-1421
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September-October 2012 52(9-10):2123-2126
Autor:
Adan, Ofer, Robinson, John C., Trujillo-Sevilla, J. M., Rodríguez-Ramos, J. M., Gaudestad, J.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; March 2020, Vol. 11325 Issue: 1 p113252W-113252W-11, 11211960p
Autor:
Soskind, Yakov, Busse, Lynda E., Trujillo-Sevilla, J. M., Ramos-Rodríguez, J. M., Gaudestad, J.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; March 2020, Vol. 11287 Issue: 1 p112870W-112870W-11, 11174142p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Soskind, Yakov G., Trujillo-Sevilla, J. M., Casanova Gonzalez, O., Bonaque-González, S., Gaudestad, J., Rodríguez Ramos, J. M.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; March 2019, Vol. 10925 Issue: 1 p109250I-109250I-10, 10815761p
Autor:
Belda-Para, Carolina1,2, Velarde-Rodríguez, Gonzalo3, Marichal-Hernández, José G.2 jmariher@ull.edu.es, Velasco-Ocaña, Miriam1, Trujillo-Sevilla, Juan M.1, Alejandre-Alba, Nicolas3, Rodríguez-Ramos, José M.1,2
Publikováno v:
Scientific Reports. 9/2/2024, Vol. 14 Issue 1, p1-13. 13p.
Autor:
Belda-Para, Carolina1,2 (AUTHOR) carolina@wooptix.com, Velarde-Rodríguez, Gonzalo3 (AUTHOR), Velasco-Ocaña, Miriam1 (AUTHOR), Trujillo-Sevilla, Juan M.1 (AUTHOR), Rodríguez-Méndez, Iván1,2 (AUTHOR), Rodríguez-Martin, Javier4 (AUTHOR), Alejandre-Alba, Nicolas3 (AUTHOR), Rodríguez-García, Silvia2 (AUTHOR), Rodríguez-Ramos, José M.1,2 (AUTHOR)
Publikováno v:
Scientific Reports. 5/1/2024, Vol. 14 Issue 1, p1-10. 10p.
Publikováno v:
Proceedings of the 20th IEEE International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA); 2013, p347-350, 4p