Zobrazeno 1 - 10
of 45
pro vyhledávání: '"Gatla Ranjith Kumar"'
Autor:
Madhuri Mora, Gatla Ranjith Kumar
Publikováno v:
E3S Web of Conferences, Vol 564, p 05006 (2024)
The solar Photovoltaic Array (PVA) producing unit reported in this study is conducted to an inadequate utility grid for distribution. A boost converter using the incremental conductance (InC) approach optimizes PVA power. The weak grid can be affecte
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/06b49f9fb7ac4c3187ae4625c9422509
Autor:
Sai M. Srinivasa Sesha, Gatla Ranjith Kumar, Vijaya Lakshmi Ch., Prashanth Addagatla, Malleswara Rao D. S. Naga, Gatla Anitha
Publikováno v:
E3S Web of Conferences, Vol 564, p 07002 (2024)
Face recognition is a technique for recognizing or authenticating someone’s identification based on a quick glance at their face. After that, this application can employ computer vision to discover a potential face inside its stream. Facial recogni
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/9aed02131fb0466f9fe65c173929b371
Autor:
Gatla, Ranjith Kumar, Kumar, Devineni Gireesh, Shashavali, Palthur, Dsnm, Rao, Kotb, Hossam, Alkuhayli, Abdulaziz, Ghadi, Yazeed Yasin, Mbasso, Wulfran Fendzi
Publikováno v:
In Heliyon 15 November 2024 10(21)
Autor:
Gatla, Ranjith Kumar, Zhu, Guorong, Lu, Jianghua, Kshatri, Sainadh Singh, Devineni, Gireesh Kumar
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2022 138
Autor:
Jayachandran, M., Gatla, Ranjith Kumar, Rao, K. Prasada, Rao, Gundala Srinivasa, Mohammed, Salisu, Milyani, Ahmad H., Azhari, Abdullah Ahmed, Kalaiarasy, C., Geetha, S.
Publikováno v:
In Sustainable Energy Technologies and Assessments October 2022 53 Part C
Autor:
Jayachandran, M., Rao, K. Prasada, Gatla, Ranjith Kumar, Kalaivani, C., Kalaiarasy, C., Logasabarirajan, C.
Publikováno v:
In Utilities Policy February 2022 74
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Engineering Science & Technology Review. 2023, Vol. 16 Issue 1, p132-137. 6p.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2019 100-101
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.