Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Gath, W"'
Autor:
Humphries, D, Chin, J, Connors, R, Cummings, J, Keffler, T, Gath, W, Hoyer, E, Kincaid, B M, Pipersky, P
Publikováno v:
Humphries, D.; Chin, J.; Connors, R.; Cummings, J.; Keffler, T.; Gath, W.; et al.(1993). Precision Alignment of the Advanced Light Source U5.0 and U8.0 Undulators. Lawrence Berkeley National Laboratory: Lawrence Berkeley National Laboratory. Retrieved from: http://www.escholarship.org/uc/item/0vw8s5kf
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::1fbcccaa88115cea1458e10eaf61ddec
http://www.escholarship.org/uc/item/0vw8s5kf
http://www.escholarship.org/uc/item/0vw8s5kf
Autor:
Humphries, David E., Chin, John, Connors, Raymond F., Cummings, J., Keffler, T., Gath, W., Hoyer, Egon H., Kincaid, Brian M., Pipersky, P.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov1993, Issue 1, p84-96, 13p
Autor:
Marks, S., Schlueter, R., Anderson, D., Gath, W., Jung, J.Y., Robin, D., Steier, C., Stevens, T.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Applied Superconductivity; Mar2002, Vol. 12 Issue 1, p153, 4p, 4 Diagrams, 1 Chart
Autor:
Stover, G.D., Baptiste, K.M., Barry, W., Gath, W., Julian, J., Kwiatkowski, S., Prestemon, S., Schlueter, R., Shuman, D., Steier, C.
Publikováno v:
Proceedings of the 2005 Particle Accelerator Conference; 2005, p3727-3729, 3p
Autor:
Heimann, P.A., Senf, F., McKinney, W., Howells, M., Zee, R.D. van, Medhurst, L.J., Lauritzen, T., Chin, J., Meneghetti, J., Gath, W., Hogrefe, H., Shirley, D.A.
Publikováno v:
Heimann, P.A.; Senf, F.; McKinney, W.; Howells, M.; Zee, R.D. van; Medhurst, L.J.; et al.(1989). High-Resolution Results from the LBL 55-Meter SGM at SSRL near the K-Edge of Carbon and Nitrogen. Lawrence Berkeley National Laboratory: Lawrence Berkeley National Laboratory. Retrieved from: http://www.escholarship.org/uc/item/755551d3
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______325::2cca36811db564a5ae78968c53b94926
http://www.escholarship.org/uc/item/755551d3
http://www.escholarship.org/uc/item/755551d3
Autor:
Hoyer, E., Akre, J., Chin, J., Gath, W., Hassenzahl, W.V., Humphries, D., Kincaid, B., Marks, S., Pipersky, P., Plate, D., Portmann, G., Schlueter, R.
Publikováno v:
Review of Scientific Instruments; Feb1995, Vol. 66 Issue 2, p1898, 3p, 2 Black and White Photographs, 3 Charts, 3 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.